Control de calidad óptico de GEM Foils

Resumen

El Multiplicador de Electrones de detectores Gaseosos (GEM) es una de las tecnologías útiles y potentes de detectores gaseosos de ionización usados en física de altas energías, física médica y otras aplicaciones. Uno de los elementos básicos de un GEM es la placa con micro perforaciones. Las características de tales perforaciones son fundamentales para un desempeño óptimo del GEM. En este trabajo se comparan diferentes métodos computacionales (implementados en lenguaje de programación Java) con el fin de determinar la calidad de las placas-GEM a partir de imágenes de alta resolución de dichas placas. El método computacional propuesto proporciona una solución alternativa automática y de alta precisión con respecto a las técnicas manuales lentas e imprecisas que se emplean actualmente, las cuales representan una limitación para el desarrollo y aplicación de esta tecnología de detectores.