Acondicionamiento y digitalización de la señal de un LVDT para la medición del perfil de una superficie sólida

Acondicionamiento y Digitalización de un LVDT

Autores/as

  • Jorge Mario Uribe Martínez Universidad del Quindío
  • Leidy Johana Quintero Rodríguez Universidad del Quindío
  • Liliana Tirado-Mejía
  • Francisco Javier Ibargüen Universidad del Quindío

DOI:

https://doi.org/10.33975/riuq.vol25n1.160

Palabras clave:

perfilómetro, sensor LVDT, acondicionamiento de señal de bajo ruido, acondicionamiento de señal de dispositivo de alta sensibilidad

Resumen

El LVDT es el elemento más importante para la medición de los perfiles utilizando un perfilómetro de contacto y su función es convertir las variaciones de desplazamiento de una aguja en variaciones de voltaje, a través del desplazamiento del núcleo de una bobina acoplado a la aguja. El desplazamiento del núcleo a escala completa se determinó midiendo el recorrido total que hace la aguja, obteniendo el mismo voltaje en el secundario para los desplazamientos extremos. Con este valor y con el de los voltajes del primario y secundario se encontró una alta sensibilidad para el LVDT del perfilómetro, siendo 7,19mV/V/mil el valor obtenido, lo que significa un reto para su lectura. Para el acondicionamiento del LVDT se utilizó un circuito AD698 que genera una señal oscilante, con amplitud y frecuencia ajustable para el primario, y un demodulador síncrono que convierte la señal del secundario en una señal DC, que incrementa linealmente con respecto a la posición del núcleo. Se diseñó e implementó un sistema de conversión A/D, teniendo en cuenta la resolución, la señal de entrada, la frecuencia de muestreo, las prestaciones estáticas y las dinámicas, la interfaz de comunicación, y el tamaño y el precio. La  transmisión de los datos de la medida del perfil se realizó por medio del protocolo USB, a través de un microcontroladorATxmega. Se realizaron medidas del perfil utilizando unas muestras patrón de 50, 5 y 1 KÅ, para evaluar el desempeño del sistema de acondicionamiento, obteniéndose resultados satisfactorios.

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Publicado

28-03-2014

Cómo citar

Uribe Martínez, J. M., Quintero Rodríguez, L. J., Tirado-Mejía, L., & Ibargüen, F. J. (2014). Acondicionamiento y digitalización de la señal de un LVDT para la medición del perfil de una superficie sólida: Acondicionamiento y Digitalización de un LVDT. Revista De Investigaciones Universidad Del Quindío, 25(1), 113–119. https://doi.org/10.33975/riuq.vol25n1.160

Número

Sección

Artículo Original